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在线薄膜测量系统
消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。 ETSys-Map融合量拓科技在高精度激光椭偏仪的先进技术和产品设计方面的经验,性能卓越。特点:微米量级的全面积扫描精度先进的
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在线椭偏测量系统(镀膜机专用)
技术指标:项目技术指标系统型号ETSys-InLine结构类型在线式探头形式激光椭偏仪或光谱椭偏仪膜厚测量重复性(1)0.1nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率n测量
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案,紧凑集成化设计,极致用户操作体验,一键快速测量分析,人机交互
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光伏椭偏仪
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海洋光学椭偏仪
SpecEL椭偏仪基本性能:●基本型号:SpecEI-2000-UV/VIS/NIR & SpecEI-2000-VIS/NIR●光谱范围:290-1050nm (UV/VIS/NR
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